共聚焦显微镜,NanoFocus共聚焦测量系统能够在任何环境中满足任何测量需求
结合μsurf技术的多传感器组合NanoFocus共聚焦显微镜的μsurf面扫描测量技术可与μscan线扫描测量技术相结合。μsurfcustom机型作为多传感器系统,是这种综合测量需求的首选。整合NanoFocus的两种工业优势技术组成综合3D表面测量系统,满足各种测量任务。μscan线扫描技术适用于快速大范围测量;μsurf面扫描技术则可应用于小范围超高精度测量。为了获得最好的用户使用体验,所有传感器均由同一软件控制。
应用μsprint共聚焦显微镜技术的在线传感器无论直接在实验室使用,还是加装罩壳后应用于工业生产环境,亦或集成到现有系统中,NanoFocus测量系统能够在任何环境中满足任何测量需求。
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